電路板PBC老化房將 “長(zhǎng)期可靠性驗(yàn)證" 轉(zhuǎn)化為 “可控的短期測(cè)試"，電路板老化房通過模擬真實(shí)工作環(huán)境下的通電循環(huán)、溫度波動(dòng)、負(fù)載變化，為企業(yè)降低售后風(fēng)險(xiǎn)、提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力提供了關(guān)鍵技術(shù)支撐。

提前剔除早期失效產(chǎn)品

部分電子元器件在生產(chǎn)過程中可能存在虛焊、焊點(diǎn)氧化、參數(shù)漂移等隱形缺陷，老化房通過持續(xù)通電（通常為 24-168 小時(shí)）與環(huán)境應(yīng)力疊加，使這些缺陷在出廠前暴露，避免終端用戶使用時(shí)出現(xiàn)突發(fā)性故障。

穩(wěn)定電路板性能參數(shù)

新生產(chǎn)的電路板中，部分元器件的參數(shù)會(huì)因初始通電產(chǎn)生波動(dòng)。老化過程中，元件溫度逐漸穩(wěn)定，電性能參數(shù)趨于恒定，確保后續(xù)使用中不會(huì)因參數(shù)漂移導(dǎo)致電路功能異常

驗(yàn)證高溫環(huán)境耐受性

而在實(shí)際應(yīng)用中，電路板可能面臨高溫、低溫、濕度等復(fù)雜變化，老化房可模擬這些惡劣環(huán)境，驗(yàn)證電路板在惡劣條件下的可靠性，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。

電路板老化房的應(yīng)用已滲透到電子制造業(yè)的多個(gè)領(lǐng)域，不同行業(yè)因產(chǎn)品特性，對(duì)老化測(cè)試的需求存在差異，針對(duì)不同規(guī)格的電路板，則需要設(shè)計(jì)多通道獨(dú)立供電，動(dòng)態(tài)負(fù)載模擬、電壓波動(dòng)測(cè)試等。

電路板PBC老化房的設(shè)計(jì)思路

1、精準(zhǔn)溫場(chǎng)與環(huán)境模擬

控溫范圍 40℃-120℃，控溫精度 ±1℃，溫場(chǎng)均勻度≤±2℃，通過多風(fēng)機(jī) + 優(yōu)化風(fēng)道設(shè)計(jì)，確保批量電路板受熱一致（避免局部溫差導(dǎo)致測(cè)試失真）。

支持恒溫老化、階梯升溫（如 50℃→85℃→100℃），部分機(jī)型可添加濕度控制（20%-95% RH），模擬濕熱環(huán)境下的老化（如戶外電子設(shè)備用電路板）。

2、批量承載與通電帶載設(shè)計(jì)

容積規(guī)模 10-500㎡，配備多層測(cè)試架，單批次可承載數(shù)百至數(shù)千塊電路板（如手機(jī)主板、服務(wù)器 PCB 板）。

支持多規(guī)格供電：AC 220V/DC 12V/24V 等，配備獨(dú)立分路開關(guān)與負(fù)載模塊（電阻負(fù)載、電子負(fù)載），可模擬電路板實(shí)際工作負(fù)載（如 CPU 運(yùn)行、信號(hào)傳輸狀態(tài)）。

3、智能監(jiān)控與數(shù)據(jù)追溯

電參數(shù)監(jiān)測(cè)：實(shí)時(shí)采集每塊電路板的電壓、電流、功率、紋波，監(jiān)測(cè)元件參數(shù)漂移（如電容容量衰減、芯片發(fā)熱異常）。

異常預(yù)警：出現(xiàn)超溫、過流、短路、斷電時(shí)，自動(dòng)切斷對(duì)應(yīng)區(qū)域電源并報(bào)警，同時(shí)記錄故障位置與數(shù)據(jù)（避免批量損壞）。

數(shù)據(jù)管理：PLC + 觸摸屏控制，支持預(yù)設(shè)老化程序（如 85℃/ 滿載 / 72 小時(shí)），數(shù)據(jù)自動(dòng)導(dǎo)出（Excel/CSV）并對(duì)接 MES 系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn) “生產(chǎn) - 老化 - 質(zhì)檢" 全流程追溯。

4、安全與散熱適配

安全防護(hù)：超溫報(bào)警、短路保護(hù)、漏電保護(hù)、煙霧報(bào)警、應(yīng)急排風(fēng)系統(tǒng)，部分機(jī)型帶防爆設(shè)計(jì)（適配含易燃元件的電路板）。

散熱優(yōu)化：內(nèi)置熱風(fēng)循環(huán) + 強(qiáng)制排風(fēng)裝置，避免電路板密集擺放導(dǎo)致的局部積熱（如大功率電路板測(cè)試時(shí)，通過可調(diào)風(fēng)速平衡散熱）。